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各種材料成分分析的幾種方式
材料成分分析主要是通過各項檢測手段對樣品的成分進行定性定量的分析�，F(xiàn)在常用的是化學(xué)分析儀和光譜分析儀，光譜分析儀流行趨勢是全譜直讀光譜分析儀
以下介紹幾種常見的材料成分分析方法：
1、火花直讀光譜儀：火花直讀光譜儀用電火花的高溫使樣品中各元素從固態(tài)直接氣化并被激發(fā)而發(fā)射出各元素的特征波長，用光柵分光后，成為按波長排列的“光譜”，這些元素的特征光譜線通過出射狹縫，射入各自的光電倍增管，光信號變成電信號，經(jīng)儀器的控制測量系統(tǒng)將電信號積分并進行模/數(shù)轉(zhuǎn)換，然后由計算機處理，并打印出各元素的百分含量。
2、化學(xué)分析法：利用物質(zhì)化學(xué)反應(yīng)為基礎(chǔ)的分析方法，稱為化學(xué)分析法。每種物質(zhì)都有其獨特的化學(xué)特性，我們可以利用物質(zhì)間的化學(xué)反應(yīng)并將其以一種適當?shù)姆绞竭M行表征，用以指示反應(yīng)的進程，從而得到材料中某些組合成分的含量；
3、原子光譜法：原子光譜是原子吸收或發(fā)出光子的強度關(guān)于光子能量（通常以波長表示）的圖譜，可以提供關(guān)于樣品化學(xué)組成的相關(guān)信息。原子光譜分為三大類：原子吸收光譜、原子發(fā)射光譜和原子熒光光譜；
4、X射線能量色散譜法（EDX）：EDX常與電子顯微鏡配合使用，它是測量電子與試樣相互作用所產(chǎn)生的特征X射線的波長與強度，從而對微小區(qū)域所含元素進行定性或定量分析。每種元素都有一個特定波長的特征X射線與之相對應(yīng)，它不隨入射電子的能量而變化，測量電子激發(fā)試樣所產(chǎn)生的特征X射線波長的種類，即可確定試樣中所存在元素的種類。元素的含量與該元素產(chǎn)生的特征X射線強度成正比，據(jù)此可以測定元素的含量；
5、電子能譜分析法：電子能譜分析法是采用單色光源或電子束去照射樣品，使樣品中電子受到激發(fā)而發(fā)射出來，然后測量這些電子的強度與能量的分布，從而獲得材料信息。電子能譜的采樣深度僅為幾納米，所以它僅僅是表面成分的反應(yīng)；
6、X射線衍射法（XRD）：XRD也可以輔助用來進行物相的定量分析。它的依據(jù)是，物相的衍射線強度隨著含量的增加而提高。但是并不成正比，需要加以修正，采用Jade程序就可以對物相進行定量分析；
7、質(zhì)譜法（MS）：它是將被測物質(zhì)離子化，按離子的質(zhì)荷比分離，測量各種離子譜峰的強度而實現(xiàn)分析目的的一種分析方法。質(zhì)量是物質(zhì)的固有特征之一，不同的物質(zhì)有不同的質(zhì)量譜（簡稱質(zhì)譜），利用這一性質(zhì)，可以進行定性分析；譜峰強度也與它代表的化合物含量有關(guān)，可以用于定量分析；
8、分光光度計法：分光光度計采用一個可以產(chǎn)生多個波長的光源，通過系列分光裝置，從而產(chǎn)生特定波長的光源，光線透過測試的樣品后，部分光線被吸收，計算樣品的吸光值，從而轉(zhuǎn)化成樣品的濃度，吸光值與樣品的濃度成正比。它包括可見分光光度計和紫外分光光度計